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方案

方案

【創(chuàng)新前沿】僅1顆外圍的AC過零檢測芯片



1?

PN1000方案六大亮點

1

BOM精簡:僅需1個外圍元器件,便于生產加工和小型化設計

2

寬輸入電壓:AC輸入電壓75~300Vac

3

高精度檢測技術:內置高精度過零檢測電路

4

高可靠性:ACIN耐壓700V,ACZO ESD大于3.5KV

5

智能保護:輸出過載保護、短路保護、開路保護、過溫保護

6

超低待機功耗:小于30mW

2?

PN1000方案過零檢測原理

PN1000是一款過零檢測專用芯片,內置有700V高耐壓功率管和高精度的過零檢測電路,具有極低的待機功耗。工作時,芯片ACIN端子通過一個限流電阻接在市電一個輸入端,芯片GND端子連接市電另外一個輸入端同時也連接應用系統(tǒng)地,芯片ACZO端子輸出過零信號。在市電輸入電壓正半周期,ACIN端子電壓大于GND端子電壓,內部檢測電路會產生一個5V左右的電壓信號并通過ACZO端子輸出;在市電輸入電壓負半周期,ACIN端子電壓小于GND端子電壓,內部檢測電路處于截止狀態(tài),同時ACZO端子輸出一個接近0V電壓信號。PN1000通過這種實時檢測輸入電壓正負周期變化,輸出一個高精度的過零點信號,可直接送給如MCU控制器來進行處理。

3?

Demo實物圖及圖紙

4?

PN1000方案與三極管過零檢測方案BOM及性能對比

4.1三極管過零檢測方案線路圖

4.2 Bom比對

PN1000方案比三極管過零檢測方案省6顆元件,易于小型化設計。

4.3 過零檢測芯片與三極管過零檢測主要性能對比

5?

過零檢測芯片測試數(shù)據(jù)

5.1  過零工作波形

測試條件:Vin=115/230Vac

測試波形如下:CH1:AC_zero,CH4:AC_input

115Vac過零波形

230Vac過零波形

5.2  EFT測試

測試條件:Vin=230Vac,EFT 4KV;

測試結果:PASS

5.3  Surge測試

測試條件:Vin=230Vac,差模雷擊2KV;

測試結果:PASS

5.4  EMI測試

測試條件:Vin=230Vac,PN1000過零檢測芯片搭配Buck-Boost電源5V/0.2A系統(tǒng)測試

測試結果:滿足EN55022 Class B標準要求

L相線

N相線

6?

應用要點

?PN1000 僅適用于單二極管或者兩顆二極管直接串聯(lián)的半波整流系統(tǒng)。

?ACIN通過1顆電阻接到輸入整流二極管之前,繞線保險電阻和壓敏電阻之后,GND腳直接接系統(tǒng)輸出地,推薦電阻值10K/1206。

?ACIN腳與ACZO、GND腳走線之間需要滿足安規(guī)要求,  推薦2.5mm以上的爬電距離。


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